การวัด I–V Curve แม่นยำ

PVA ใช้ capacitive load ในการ sweep แรงดันเพื่อบันทึก I–V Curve ของสตริงหรือโมดูลโดยตรงที่ string level หรือผ่าน combiner box เลือกจุดวัดได้ 100 หรือ 500 จุด พร้อมสร้าง P–V Curve แสดงพลังงานและคำนวณ Isc, Voc, Imp, Vmp, Pmax, Fill Factor และ Performance Factor เพื่อประเมินสุขภาพของระบบ PV

PV Model ในตัว & SmartTemp™

PV Model แบบ built-in จะประเมินค่า I–V Curve ที่คาดหวังจากเงื่อนไข irradiance และอุณหภูมิที่วัดได้จริงโดย SolSensor™ แล้วคำนวณ Performance Factor เทียบกับค่าจริง ส่วน SmartTemp™ ผสานผลการวัดอุณหภูมิโมดูลด้านหลัง (thermocouples สองช่อง) กับอุณหภูมิที่คำนวณจาก curve ตาม IEC 60904-5 เพื่อความแม่นยำสูงสุด

SolSensor™ Wireless PV Reference Sensor

SolSensor™ วัด irradiance (±2 % ที่ >600 W/m²), module temperature (±2 °C), array tilt (±2 °) และส่งข้อมูลผ่าน Wi-Fi ไปยัง PVA อัตโนมัติ เซ็นเซอร์ photodiode รองรับ multi/mono-crystalline, CdTe และ thin-film พร้อมการชดเชยมุมรับแสง ช่วยให้วัด curve ได้ตั้งแต่เช้า–เย็นโดยไม่ต้องปรับตำแหน่งบ่อย

Sweep-to-Sweep Delay & Hot-Climate Operation

PVA-1500HE2 ลดเวลา sweep-to-sweep เหลือ

Interface & Data Management

ใช้งานร่วมกับแท็บเล็ตหรือโน้ตบุ๊ก Windows ผ่านแอป PVA Application แสดงผลหลายรูปแบบ บันทึกการวัดโดยเลือก branch ใน array tree ของคุณ ซอฟต์แวร์คำนวณ I–V Curve ที่คาดหวังและ Performance Factor อัตโนมัติ

Data Analysis Tool (DAT)

DAT คือ Add-in บน Microsoft Excel™ สำหรับวิเคราะห์ข้อมูล PVA I–V Curve: สร้าง String Table, Flag สตริงผิดปกติ, แสดง overview สถิติของ array, รวมกราฟ I–V ของหลายสตริงที่ combiner box, สร้าง histogram ของพารามิเตอร์ และส่งออกรายงาน PDF ที่ปรับแต่งได้ฟรี รองรับหลายภาษา

Workflow & Reporting

1. เชื่อมต่อ PVA กับสตริงหรือ combiner box และ SolSensor™
2. ตั้งค่าจำนวนจุด Trace และกด Start เพียงครั้งเดียว ระบบจะ sweep และบันทึกข้อมูลทุกรอบ
3. วิเคราะห์ผลทันทีบนหน้าจอหรือบน PVA Application บนแท็บเล็ต/โน้ตบุ๊ก
4. ส่งข้อมูลไร้สายไปยัง DAT เพื่อสร้างรายงานสรุปประสิทธิภาพ, เทรนด์, และแผนซ่อมบำรุง

ประโยชน์เชิงปฏิบัติการ

– ลดเวลาทดสอบและ downtime ด้วย sweep เร็วและการวิเคราะห์อัตโนมัติ
– ตรวจจับโมดูลเสื่อมและ mismatch ก่อนเกิดการขาดประสิทธิภาพ
– รองรับเทคโนโลยี PV หลากหลาย ตั้งแต่ crystalline จนถึง thin‐film
– ยืดอายุอุปกรณ์ในสภาพร้อนจัดด้วยการ sweep ที่ทนความร้อนสูง
– จัดการข้อมูลง่ายขึ้น ลดข้อผิดพลาดด้วยฐานข้อมูลโมดูลและ DAT

*ระยะตรวจจับอาจเปลี่ยนแปลงตามเงื่อนไขสนามจริง